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光谱角分布测量系统
全波段光谱透过率测量，透射角分布测量
全波段光谱反射率测量，反射角分布测量
波长范围:200nm-IR
不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构
双层平台独立旋转，重复定位精度0.005°，分辨率0.00125°
样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作
台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面
功能扩展：测量光栅衍射效率
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